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半导体激光器全自动COS综合性能测试设备
半导体激光器全自动COS综合性能测试设备
LD-COS检测设备：用于激光芯片贴片后，光性能的检测设备。传统检测方式为人工上下料，仪器检测数据，人工筛选和记录。本设备将全面实现自动化，大大提高芯片检出效率，减少人为操作带来的误判或芯片损伤，更省人省时。
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