半导体激光器全自动COS综合性能测试设备

产品类别: COS综合性能测试设备

LD-COS检测设备：用于激光芯片贴片后，光性能的检测设备。传统检测方式为人工上下料，仪器检测数据，人工筛选和记录。本设备将全面实现自动化，大大提高芯片检出效率，减少人为操作带来的误判或芯片损伤，更省人省时。

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我司自主研发的全自动COS综合性能测试设备：是用于激光芯片贴片后，光性能的检测设备。传统检测方式为人工上下料，仪器检测数据，人工筛选和记录。本设备将全面实现自动化，大大提高芯片检出效率，减少人为操作带来的误判或芯片操作，更省人省时。

技术参数：

型号	HX-COST150
供电	单相交流/220V(50Hz)，30A
整机功率/重量	≤8KW / 1200kg
气源	压缩空气0.5~0.8Mpa，真空度>-80Kpa，直径10mmTube，(选项:真空泵)
水源	纯水，4L/Min(管直径:机台12mm，冷却8mm)
设备尺寸	1400 x 1350 x 2100(mm)
测试工位	双通道，4工位
测试最大电流	100A，步长0.1A，分辨率1mA，设定精度0.1%+50mA
激光波长范围	300~1100nm
功率测试	功率重复测试精度<0.5%，功率测试范围为0-80W，分辨率0.01W
波长检测	测量范围为300-1100nm，波长测量精度为1nm，光学分辨率≤0.25nm。
偏振度	偏振度差值<土0.5%;
发散角	X轴方向测量范围-50°至50°，Y轴方向-60°至60°，精度土0.5
测试效率	280PCS/小时